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シンプルで小型ながら、膜厚管理に必要な機能は充実しています。アプリケーション・メモリー(検量線メモリー)機能、測定データ・メモリー、膜厚管理の上下限設定、簡単な統計処理、データ出力など15種の機能を装備しています。磁性金属に施された被膜厚測定と、非磁性金属に施された被膜厚などの測定が可能です。
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商品仕様
製品名: | デュアルタイプ膜厚計LZ-990(エスカル) |
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型番: | デュアルタイプ膜厚計LZ-990(エスカル) |
メーカー: | ケツト科学研究所 |