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FI2-7000 FiberInspector(TM) Pro
光ファイバー・コネクター端面の汚れは光ファイバー配線障害の一番の原因です。汚れは、挿入損失や後方散乱を引き起こし、それが光伝送を妨げ、トランシーバー間の信号伝送に甚大な障害を生じさせます。光ファイバー損失試験および OTDR 試験によってこの問題を明らかにすることはできますが、接続部が汚れていると、概して、ファイバー試験に要する時間が増し、不正確な結果しか得られません。
汚れは光ファイバー配線の認証試験前、試験中、または試験後に問題となることがあります。光ファイバー・コネクター嵌合時には片方の端面から別の端面に汚れが転写される場合があるため、接続部の両端を常にきれいにして試験する必要があります。さらに、汚れた光ファイバー・コネクターを接続すると、微細な破片が物理的な接触により端面の間でつぶされ、これが端面の永久的な破損につながります。たとえ工場で成端されたパッチコードやピグテールだとしても、保護キャップでは端面をクリーンな状態に保つことができないため、光ファイバー・コネクター端面の検査が必要です。 このようなよくある障害原因を避けるためには、バルクヘッドまたは装置のポートに挿入する前に、光ファイバー・コネクター端面を検査し、汚れを除去することから始めなければなりません。
光ファイバー検査スコープの FI-7000 FiberInspector Pro を使用すると、光ファイバー・コネクターの端面を 1 秒で点検および認証できるため、測定や敷設作業を最初から正しく行うことができます。自動合否判定機能によって当て推量による判断が光ファイバー検査から排除されるため、誰でも光ファイバーの専門家と同じ技量で作業する事ができます。
概要
- 光ファイバー・コネクター端面の自動合否判定
- 汚れ、へこみ、削り傷、および引っかき傷による問題箇所をグラフィカルに表示
- 業界標準規格 - IEC 61300-3-35に基づき判定
- 光ファイバー・コネクター端面の状態確認から主観的判断を排除
- 光ファイバー・コネクター端面のイメージおよび判定結果を保存
- Versiv(TM) のモジュール化設計は、メタル配線の認証試験、光ファイバー損失測定試験、OTDR 試験、およびファイバー端面検査をサポート
FI2-7000 FiberInspector Pro に含まれるもの
Versiv メインフレーム、USB ファイバー検査ビデオ・プローブ (チップ 4 個付き（LC、FC/SC バルクヘッド、1.25 および 2.5mm ユニバーサル））、メインフレームの後部コネクターを保護するためのダミー・モジュール、AC 充電器、ショルダー・ストラップ、USB インターフェース・ケーブル、Versiv オープン・ソース・ソフトウェア CD、Wi-Fi 機能内蔵、入門ガイド、およびソフト・キャリー・ケース。
※都度発注品となりますので予め納期の確認をお願いいたします
付属品：上記参照
保証：メーカー保証
校正：対象外
商品仕様
| 製品名: | FI2-7000 AP |
|---|---|
| 型番: | FI2-7000 AP |
| メーカー: | フルーク・ネットワークス |
